ГОСТ 21104-75
КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ
Феррозондовый метод
Non-destructive testing. Ferrosonde method
Содержание
Приложение 2 Рекомендуемое аппаратура для проведения контроля феррозондовым методом
Приложение 4 Справочное Перечень терминов, применяемых в настоящем стандарте
Настоящий стандарт распространяется на изделия, детали и полуфабрикаты из ферромагнитных материалов (в дальнейшем - изделия) и устанавливает феррозондовый метод неразрушающего контроля.
Стандарт устанавливает способы контроля, виды и способы намагничивания, уровни чувствительности, технологию контроля и требования к аппаратуре.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
1.1. Феррозондовый метод неразрушающего контроля основан на выявлении феррозондовым преобразователем (далее - преобразователь) магнитного поля рассеяния дефекта в намагниченных изделиях и преобразовании его в электрический сигнал.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
1.2. Метод служит для выявления поверхностных и подповерхностных (лежащих в толще материала) дефектов типа нарушений сплошности: волосовин, трещин, раковин, закатов, плен, ужимов и т.п.
1.3. Метод позволяет контролировать изделия любых размеров и форм, если отношение их длины к наибольшему размеру в поперечном направлении и их магнитные свойства дают возможность намагничивания до степени, достаточной для создания магнитного поля рассеяния дефекта, обнаруживаемого с помощью преобразователя.
1.4. Метод разрешается применять также для выявления дефектов типа нарушения сплошности сварных швов, для контроля качества структуры и геометрических размеров изделий.
1.5. Чувствительность метода определяется магнитными характеристиками материала контролируемого изделия, его формой и размерами, способом контроля и видом намагничивания, чувствительностью применяемого преобразователя и электронной аппаратуры, а также магнитным полем рассеяния дефекта.
1.6. Чувствительность метода проверяют на стандартных образцах, имеющих естественные или искусственные дефекты.
1.7. В зависимости от размеров выявляемых поверхностных и подповерхностных дефектов, а также глубины их залегания устанавливаются пять условных уровней чувствительности метода, указанных в табл.1.
Таблица 1
| мм | |||
| Условные уровни чувствительности метода | Минимальный размер выявляемых дефектов | Максимальная глубина залегания дефекта | |
| Ширина (раскрытие) | Глубина | ||
| Поверхностные | |||
| А | 0,1 | 0,2 | - |
| Б | Св. 0,1 до 0,5 | Св. 0,2 до 1,0 | - |
| Подповерхностные | |||
| В | 0,3 | 0,5 | 10,0 |
| Г | 0,3 | Св. 0,5 до 1,0 | 10,0 |
| Д | Св. 0,3 до 0,5 | «0,5» 1,0 | 5,0 |
Примечания:
1. Минимальная длина выявляемого дефекта определяется поперечными размерами преобразователей и их шагом сканирования и должна быть 2 мм и более.