Введите номер документа
Прайс-лист

СТ РК ISO 12980-2019 «Материалы углеродные для производства алюминия. Сырой и прокаленный кокс для электродов. Анализ с использованием рентгеновского флуоресцентного метода»

Информация о документе
Датавторник, 3 декабря 2019
Статус
Действующийвведен в действие с 1 января 2021
Дата последнего изменениявторник, 3 декабря 2019

СТ РК ISO 12980-2019

Материалы углеродные для производства алюминия
Сырой и прокаленный кокс для электродов
Анализ с использованием рентгеновского флуоресцентного метода

 

(ISO 12980:2000 Carbonaceous materials used in the production of aluminium.

Green coke and calcined coke for electrodes. Analysis using an X-ray fluorescence method, IDT)

 

Содержание

 

1. Область применения

2. Нормативные ссылки

3. Принципы

4. Аппаратура и материалы

5. Отбор и подготовка пробы

6. Проведение анализа

7. Представление результатов

8. Прецизионность

9. Протокол испытаний

 

 

1. Область применения

 

Настоящий стандарт устанавливает рентгеновский флуоресцентный метод определения содержания примесей в сыром и прокаленном нефтяном коксе, применяемом для изготовления электродов, используемых в производстве алюминия.

 

 

2. Нормативные ссылки

 

Для применения настоящего стандарта (документа) необходимы, следующие ссылочные документы. Для недатированных ссылок применяют последнее издание ссылочного документа (включая все его изменения):

ISO 6375:1980 Carbonaceous materials for the production of aluminium.Coke for electrodes.Sampling (Материалы углеродные для производства алюминия. Кокс для электродов. Отбор проб).

 

 

3. Принципы

 

Образец в виде таблетки, спрессованной из измельченного нефтяного кокса и органического связующего вещества, подвергают воздействию рентгеновского излучения от рентгеновской трубки. Применяют трубки из хрома, родия или скандия в зависимости от того, какие элементы подлежат определению.

Облучение исследуемого образца вызывает выброс и перераспределение орбитальных электронов, что приводит к вторичному излучению с характерной длиной волны для каждого элемента. Это вторичное излучение отражается в детекторную систему кристаллом, установленным под определенным углом к вторичному излучению. Детекторной системы достигают лучи, подчиняющиеся закону Брэгга, описываемого следующей формулой:

 

 (1)

 

где

n - порядок дифракции;

λ - длина волны рентгеновского излучения;

d - межплоскостное расстояние в кристалле;

sinθ - параметр угла поворота кристалла.

 

Содержание примесей в массовых долях в зависимости от измеренной интенсивности вторичного излучения рассчитывают по калибровочному графику.

Интенсивности удельного вторичного излучения рассчитывают в массовых долях в соответствии с заданными калибровочными кривыми.

 

 

4. Аппаратура и материалы

 

4.1 Рентгеновский флуоресцентный спектрометр, оснащенный кристаллами-анализаторами с различными межплоскостными расстояниями: LiF200 (фторид лития, отражающий плоскости рефлекса 200), РЕ (пентаэритрит), РХ1 (синтетический вольфрам-кремний), Ge (германий). TIAP (фталат таллия) и LSM (многослойная синтетический микроструктура).

Демо – версия документа

Документ показан в сокращенном демонстрационном режиме
Укажите название закладки
Создать новую папку
Закладка уже существует
В выбранной папке уже существует закладка на этот фрагмент. Если вы хотите создать новую закладку, выберите другую папку.
Скачать в Word

Скачать документ в формате .docx

Доступ ограничен
Чтобы воспользоваться этой функцией, пожалуйста, войдите под своим аккаунтом.
Если у вас нет аккаунта, зарегистрируйтесь
Режим открытия документов

Укажите удобный вам способ открытия документов по ссылке

Включить или выключить функцию Вы сможете в меню работы с документом