ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ГОСТ 22372-77
СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81) **
МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
Методы определения диэлектрической проницаемости
и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·106 Гц
Dielectric materials. Methods of determination of permittivity and powerfactor with
in a frequency range of 100 to 5·106 Hz
Содержание
1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ
2. АППАРАТУРА
3. ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЯМ
4. ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЙ
5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИСПЫТАНИЙ
6. ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ
ПРИЛОЖЕНИЕ (справочное). Рекомендуемая аппаратура для измерения емкости и тангенса угла диэлектрических потерь
ПРИЛОЖЕНИЕ 2 (справочное). ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ О СООТВЕТСТВИИ ГОСТ 22372-77 СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81
1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ
1.1. Порядок отбора, способ обработки и число образцов для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть указаны в стандартах или другой нормативно-технической документации на испытуемый материал. При отсутствии таких указаний число образцов должно быть не менее трех.
1.2. Образцы для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть изготовлены в виде круглых, квадратных пластин или цилиндрических трубок.
1.3. Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без трещин, складок, вмятин, царапин, посторонних включений и других дефектов. При необходимости поверхность образца должна быть очищена растворителем, не влияющим на свойства материала.
1.4. Толщина и площадь испытуемых образцов должны быть такими, чтобы емкость конденсатора, полученная после нанесения электродов на испытуемый образец, была достаточной для определения диэлектрической проницаемости с погрешностью не более ±4%. При этом диаметр или ширина плоского образца должны быть от 2,5 до 15 см, а длина трубчатого образца - от 10 до 30 см. Во всех случаях отношение диаметра образца к его толщине должно быть не менее 10.
Для материалов с большой (
>30) диэлектрической проницаемостью допустимы образцы меньшего диаметра, но не менее 1 см.
1.5. Толщина образца должна определяться как среднеарифметическое результатов измерений его не менее чем в пяти точках, равномерно расположенных по поверхности образца. Погрешность измерения толщины 
в каждой точке должна быть не более ±(0,01t+0,0002) см. Каждое из измеренных значений толщины не должно отличаться от среднеарифметического более чем на 5% при толщинах меньше 0,05 см и на 2% при толщине 0,05 см и более.
1.4, 1.5 (Измененная редакция, Изм. № 1).
1.6. Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материала должно проводиться на одном и том же образце.
1.7. Число испытываемых проб, объем пробы, необходимый для проведения одного испытания для жидкого диэлектрического материала, должны выбираться в соответствии с ГОСТ 6581-75.
2. АППАРАТУРА
